Beim Verfahren I wird ein rein numerischer Ansatz verfolgt, bei dem der Mustervergleich auf der Korrelation mit Referenzmasken basiert. Beim Verfahren II wird ein symbolisch-numerischer Ansatz verfolgt, bei dem eine Liniendarstellung extrahiert und mit Referenzliniendarstellungen verglichen wird. Beim Verfahren III wird ein syntaktischer Ansatz verfolgt, bei dem Primitivobjekte extrahiert und modellgestützt Referenzstrukturen generiert werden.
In industriellen Anwendungen ist neben den Störungen durch Beleuchtungsvariationen auch mit ungenauer Positionierung und Ausrichtung von Werkstücken zu rechnen. Für die vorgestellten Verfahren wird die Empfindlichkeit bezüglich einer Verdrehung der Mustervorlage untersucht und an Beispielen dargestellt.
Der Operationsaufwand der Verfahren wird untersucht und an einigen Berechnungsbeispielen gegenübergestellt. Abschließend werden die Ergebnisse diskutiert und die Verfahren bewertet.